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在托卡马克等离子体中，电子温度和离子温度是研究粒子的热输运、等离子体约束、极向电场和扰动等等离子体特性的最基本的参量之一。本文主要内容是通过对X射线弯曲晶体光谱仪实验数据拟合研究，着重分析电子温度和离子温度在不同加热机制下一般行为，以及低杂波电流驱动下，第一壁锂化处理技术对电子温度剖面和离子温度剖面的影响。
通过分析发现，在欧姆加热和低杂波加热下，可同时观测到电子温度和离子温度接近的想象，这是由于随着等离子体密度增加，电子与离子之间的碰撞行为加剧所产生的结果。EAST托卡马克装置于2009年首次引入第一壁锂化处理技术。在高功率低杂波加热和第一壁锂化条件下，在低杂波注入中期观测到电子温度剖面和离子温度剖面变平的现象。这种现象是由第一壁锂化技术对边界再循环模式的降低所引起。