电子器件中广泛存在着各种类别、各种频段的噪声。噪声信号看似杂乱无章，实则包含着与器件相关的丰富信息，电子器件噪声相关研究既具有科学意义，又有实用价值。以往对低频噪声的研究表明，电子器件中的低频噪声，尤其是1/f噪声能够用于诊断器件内部材料缺陷以及损伤状况，可以表征器件可靠性。近年来对纳米尺度电子器件散粒噪声的研究表明，散粒噪声与纳米器件内部结构信息和电子传输特性相关，可作为纳米光电材料和器件介观信息表征的新工具。上述对各频段噪声的研究与应用是建立在噪声检测技术的基础之上的，其中散粒噪声测试和提取需要在低频1/f噪声转折频率以上。传统的电子器件噪声检测方法仅能覆盖电子器件噪声频谱中较低的频段部分，适用于1/f噪声等低频噪声测试和分析，对于较高频段噪声（如散粒噪声）测试则不能适用。为了解决上述问题，本论文设计并实现了一种能同时覆盖噪声信号高低频段的检测系统，该系统能够实现宽频噪声采集与分析的功能，其中硬件部分使用NI公司的高速数据采集卡与低噪声宽频放大器等构建，软件部分使用Labview图形化开发平台编写。本文主要完成的工作如下：1，提出了基于虚拟仪器实现宽频噪声检测的思路，并在此基础上设计了系统总体构成方案。2，在上述结果的基础上，首先分析了实验室现有仪器的局限性，随后针对目标测量频段的范围，完成了新的数据采集卡和低噪声宽频带放大器的选型和调试工作，以此作为系统的硬件部分。利用Labview图形化开发平台编制了相应的软件，实现宽频噪声信号时间序列和频谱的采集及分析等功能。3，验证了系统测量的准确性、系统采集的频带宽度、放大器本底噪声的影响以及软件功能的实现性。验证结果表明该系统的各项指标均达到了设计目标。将该系统应用于基于低频噪声的电子器件可靠性筛选方案和雪崩光电二极管散粒噪声测试分析方案中，探究了该系统的实用价值。