随着导弹技术不断发展,集成处理器在其全寿命周期内所面临的任务更加多样化、复杂化,传统的集成处理器测试系统难以应对当前多变的测试任务。本文以提高集成处理器测试系统的通用性、灵活性和紧凑性,支持测试系统快速集成为目标,研制紧凑型集成处理器测试系统。首先,对集成处理器测试系统的研究现状进行调研和分析,针对现有的国内集成处理器测试系统资源冗余,维护较为复杂,自主性较低等问题,本文设计并研制了一种紧凑型集成处理器测试系统,面向集成处理器测试的实际需求,对测试系统仪器资源进行整合与优化,进而设计自定义系统总线和通用硬件模块,利用可重构技术提升系统的灵活性和通用性,配合测试系统软件,提高系统集成速度,能够适应多变的测试任务。其次,论文针对紧凑型集成处理器测试系统通用、灵活、快速集成等需求,通过对集成处理器通用测试内容的梳理和分析,提出集成处理器测试系统总体方案,明确了自定义背板总线的设计方案,完成了通用测试模块的划分,并在系统总体方案的基础上介绍了系统软、硬件平台的实现方案。系统硬件方面,论文提出一种统一化的模块设计思路,将模块划分为模块基础电路端和测试接口端。同时,借助Zynq So C实现系统动态重构功能,简化系统电路设计,增强系统的灵活性和紧凑性。并在此基础上完成了自定义背板总线、测试接口单元和网络接口单元等硬件电路设计以及相应的固件设计。系统软件方面,论文设计嵌入式软件和系统应用软件。首先,本文在Zynq So C PS部分移植轻量级嵌入式实时操作系统Free RTOS,通过嵌入式操作系统实现可靠的多任务管理。其次,本文对系统应用软件进行设计,为用户提供了系统仪器资源识别与配置,测试流程生成以及数据显示与存储等功能,并提供了友好的交互界面。最后,论文介绍了集成处理器测试系统的调试和验证。首先进行软硬件基本功能调试,最后进行系统联调,结果表明测试系统稳定可靠,各项功能指标均满足设计要求。