本文以实现对浮法玻璃表面锡元素的全面检测为目的,在对国内外浮法玻璃生产现状综合分析的基础上,取5 mm浮法玻璃原片作为试验样品,采用X射线光电子谱分析（X-ray Photoelectron Spectroscopy,XPS）法研究了浮法玻璃下表面各价态锡离子的分布,用紫外荧光光谱分析（UltravioletPhotoluminescence,UV-PL）法,研究了浮法玻璃表面不同价态锡离子的激发-发射机制,并以X射线荧光光谱分析（X-ray Fluorescence,XRF）法作为试验印证手段,研究了渗锡量对浮法玻璃质量的影响规律,给出了浮法玻璃下表面锡元素的定量表征方法。同时对玻璃钢化虹彩现象产生机理进行探讨。研究结果表明:浮法玻璃下表面的锡以Sn⁰、Sn²⁺和Sn⁴⁺三种价态形式存在,其中Sn²⁺占90%以上。根据不同锡含量浮法玻璃的紫外荧光谱分析,我们发现Sn²⁺离子的273 nm激发峰强度与X射线荧光法测定的渗锡量（以cps表示）成线形关系,其表达式为Y=A+B×X,其中X和Y分别代表XRF锡计数和紫外荧光强度,A和B为常数,这与由理论公式计算得到的紫外荧光和X射线荧光强度关系相一致。由此我们研究获得了一种紫外荧光法定量测定浮法玻璃表面渗锡量新方法。对浮法玻璃钢化虹彩现象的研究发现,钢化虹彩是由于钢化处理时Sn²⁺被氧化成Sn⁴⁺时体积膨胀引起的内应力积累所致,Sn²⁺的存在是导致钢化虹彩的根源,然而实际生产中是否产生玻璃虹彩,取决于玻璃表面的渗锡量是否超过临界渗锡量1200（以X射线荧光强度cps表示）。