近年来,随着无线通信应用的日益广泛,无线终端设备如手机的射频性能测试技术也得到更多关注。手机射频性能的测试主要包括增益、TRP(总辐射功率)、TIS(总全向灵敏度)等测试。这些测试离不开微波暗室的使用。本论文主要包括微波暗室静区的确立,测试系统的测量不确定度评定以及TIS快速测试技术的研究三个部分。微波暗室的电性能中,静区反射电平是反映暗室性能好坏的最主要指标之一。静区的反射率电平越小,暗室本身引入的测试误差越小,暗室的性能也越好。因此,为了确保手机辐射性能测试系统的测试可靠性,本文首先使用几何光学法和几何绕射理论对测试场地的静区性能进行了仿真和实际测试,并确立出不同条件下的静区范围,确保被测手机处于静区之内。在此基础上,本文介绍了微波暗室中手机增益、TRP和TIS自动化测试系统,分别重点讨论了影响系统测量不确定的各种因素,并对主要影响因素如测试设备、连接失配和环境条件等进行了定量计算。根据理论分析以及长期的测试经验对如何提高测试数据的可靠性提出了建议。同时,由于本暗室中利用蜂窝通信与互联网协会(CTIA)步进测试法编写的传统TIS测试系统测试效率低,对速度和精度都造成影响。本文根据大量的手动测试数据,利用数据预测法提出了一种新的TIS测试算法。经验证该法可以极大提高测试的效率和稳定性,有较大的实用意义。