随着现代科学技术的进步,光学三维形貌测量已经获得了巨大的发展,因其具有非接触性、精度高、效率高等特点,已被广泛应用于各个领域,该技术有着巨大的商业和应用价值。其中基于结构光投影的三维形貌测量被认为是最有发展潜力的测量方法。特别是,利用条纹投影的三维形貌测量技术,因具有测量速度快、精度高等特点而被充分研究和应用。但由于条纹的周期性使得该技术必须在求得相位信息后进行相位解包裹处理,因此一些学者提出了利用数字散斑图代替周期性条纹图的三维形貌测量技术。该技术无需解包裹处理,对于存在突变或者复杂面形的物体依然可以重建出其表面形貌。但任何透镜投影系统都有一定景深,使得超出景深范围的物体重建结果出现误差。为了实现对物体的三维形貌绝对测量,避免相位解包裹处理,提出了一种基于激光散斑场纵向相关性质的激光散斑三维形貌绝对测量技术。本文首先通过实验研究了激光散斑场的纵向相关性质,通过相关运算获得了散斑图的纵向深度与横向偏移量之间的线性关系,针对该实验中的各个系统参数进行了研究,并利用这一线性关系实现了对处于激光散斑场中的物体表面到参考面间的绝对测量,三维形貌重建无需相位解包裹处理。并且由于激光散斑场是激光照射毛玻璃形成的,避免了投影数字散斑技术中的透镜投影系统,技术装置简单,操作方便。该技术有望获得更广泛的应用。