随着SOC技术的发展和设计IP的大规模应用,集成电路芯片设计正在更加快速的往超大规模发展,验证复杂度也持续增加。验证是保障芯片设计正确性,提高一次性流片成功率的关键,但设计的飞速发展与验证方法的发展之间鸿沟仍然巨大。复杂模块很难在验证中将芯片实际运用可能遇到的所有条件模拟执行。预期到所有可能边界条件,以及发现设计中深层次设计缺陷。除此之外,最大程度的提高验证工作自动化,验证平台复用性,尤其是验证IP的建立也是验证工作的重要挑战。基于system verilog语言建立的VMM验证方法学是更加自动化,更利于平台复用,验证更加完备,效率更高的验证方法学。它的突出特点是带约束随机生成数据,功能覆盖率和代码覆盖率双重标准驱动验证,层次化验证平台以及一个平台适用于全部测试用例。它的使用可以大幅度提高验证效率。本文基于此方法学,对SPI工作模式下的SD存储卡进行模块级的验证环境的研究和搭建。详细介绍了SD卡的工作协议,在分析本项目中的芯片设计基础上,提出主要待测功能点,和验证框架。针对待测功能点,建立测试用例,针对初始验证没覆盖到的边界情况以及模拟错误工作情况,可以针对性建立直接测试用例。采用VMM提供的标准层次化环境,通过VMM验证功能模块(标准基类)的扩展和实例化建立各功能模块,并通过参数化配置环境使环境达到一个环境多个测试用例通用的目的。基于VMM的验证平台的建立有效SD卡的模块级验证工作效率,更重要的是,此项目中搭建的验证平台可以方便的复用于系统级验证,并且可以作为SD相关项目的参考验证平台。VMM提供的标准框架可以为了满足个别项目的更简化,更利于复用而进行灵活的改变。但是本项目还需要继续优化验证环境,提高平台复用率以及验证效率。