【摘 要】
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本文叙述了用B-S方法生长CaF晶体时,几种常见的负离子杂质对CaF晶体的品质的影响,主要分析了O、S两种负离子在CaF晶体中的存在形式,通过偏光显微镜分析了晶体杂质及周边基质CaF晶体的应力,并解释了杂质晶体及基质晶体位错缺陷的成因.本文还分析了其它常见的杂质在不同的掺杂浓度下,对CaF晶体品质产生的影响.
【机 构】
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中科院长春光学精密机械与物理研究所(吉林长春) 大连海事大学数理系(辽宁大连)
【出 处】
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第四届中国功能材料及其应用学术会议
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本文叙述了用B-S方法生长CaF<,2>晶体时,几种常见的负离子杂质对CaF<,2>晶体的品质的影响,主要分析了O<2->、S<2->两种负离子在CaF<,2>晶体中的存在形式,通过偏光显微镜分析了晶体杂质及周边基质CaF<,2>晶体的应力,并解释了杂质晶体及基质晶体位错缺陷的成因.本文还分析了其它常见的杂质在不同的掺杂浓度下,对CaF<,2>晶体品质产生的影响.
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