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提出了一种测量磁性薄膜材料微波参数的新方法。测试样品结构采用微带传输线形式,等效介电常数和等效磁导率由测试网终S参数计算得出,利用支持向量机从等效介电常数和等效磁导率中提取出实际被测薄膜材料的介电常数和磁导率,网络S参数由全波分析软件(IE3D)得到。计算结果表明,介电常数和磁导率测试误差均低于5％。