InGaN多量子阱LED外量子效率-墙插效率交叉现象

来源 :第13届全国MOCVD学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:shizm
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  本文较系统地报告InGaN多量子阱LED外量子效率(EQE)和墙插效率(WPE)的交叉现象.对高质量的InGaN多量子阱LED,在小电流密度注入下,其墙插效率大于外量子效率,说明LED处于吸热制冷状态,辐射复合载流子从晶格中吸收一定的热能,复合后发出能量高于其本身电势能的光子,且该吸热制冷效率随发光波长变长而减弱.随着电流密度增大,外量子效率逐渐超过墙插效率.外量子效率-墙插效率交叉点的电流密度和InGaN LED的发光波长相关,波长越长,交叉电流密度越小:发光峰值波长为516,500, 450, 400 nm时,其交叉点电流密度分别是11,5.5,4,1.6 A/cm2.本文进一步用ABC载流子复合模型对外量子效率曲线进行了拟合分析,分析表明,辐射复合电流密度随注入电流密度的减速度是导致WPE-EQE交叉及外量子效率衰退的主要原因.
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