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为了充分检验某高性能DSP的CPU内核在65nm工艺下是否达到既定设计目标,对CPU内核进行了一次试流片,本文对测试芯片的设计与验证工作进行了总结。在测试芯片内设计了专门的测试逻辑,可以通过普通和ET两种方式控制CPU内核的执行。对测试芯片进行了模拟验证和FPGA仿真验证,验证工作表明测试芯片的各项功能正确。采用层次式方法完成了该测试芯片的物理设计,在TT情况下最高运行频率可达1GHz。