全蒸发热电离质谱法测量浓缩铜样品的同位素丰度比

来源 :第十一届全国核化学与放射化学学术研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zexuan123
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
绝对质谱法是在同位素标准物质研制、原子量测量中使用的方法,在该方法中,需要用到浓缩同位素样品及其丰度比.使用硅胶-磷酸对测量条件进行改善.通过测量,建立全蒸发热电离质谱法测量浓缩铜样品的丰度比的方法,为国内铜同位素丰度标准研制提供支持.通过对全蒸发TIMS法测量铜同位素丰度比条件的研究发现,在样品量2μg,硅胶2μl,磷酸1.5μl的条件下测量结果的外精度最好。在该条件下,浓缩63Cu、65Cu样品65Cu/63Cu的测量结果分别是:0.003926,RED=4.4‰;232.6,RSD=5.1‰.
其他文献
会议
会议
会议
会议
会议
会议
以N,N,N,N四辛基-3-氧戊二酰胺(TOI3GA)为萃取剂,正十二烷为稀释剂,研究了该萃取体系在恒界面池中萃取Sr(Ⅱ)的动力学,考察了搅拌转速、界面面积、萃取剂浓度、金属离子浓度、酸