用于多结太阳电池的4寸VGF-Ge单晶衬底性能研究

来源 :第十七届全国化合物半导体材料微波器件和光电器件学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:leeo_1987
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  随着高效多结太阳电池制造工艺的日益成熟和商业化应用,对制造电池所用的Ge单晶衬底质量要求日益提高。本文对VGF法生长的4寸Ge单晶衬底进行了电学性能、杂质含量、残余应力以及晶格完整性等检测分析,并与LEC法生长的低位错Ge单晶衬底的结果进行了比较,分析了4寸Ge单晶衬底缺陷等对多结电池性能的影响作用。讨论了改进单晶生长工艺,提高Ge衬底晶体质量、降低缺陷密度、进而提高多结太阳电池的转换效率和成品率的技术途径。
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