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文章综述了近年来在等离子体质谱仪(ICP-MS)在改善仪器信噪比和信背比性能方面的进展.论述了仪器的信噪比和信背比与实际分析下限的关系,以及背景和背景噪声的来源.介绍了用于改善仪器信噪比和信背比的新的仪器锥口设计和新的离子提取模式。
ICP-MS仪器在改善信噪比信背比方面的进展
【摘 要】
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文章综述了近年来在等离子体质谱仪(ICP-MS)在改善仪器信噪比和信背比性能方面的进展.论述了仪器的信噪比和信背比与实际分析下限的关系,以及背景和背景噪声的来源.介绍了用于改善仪器信噪比和信背比的新的仪器锥口设计和新的离子提取模式。
【机 构】
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Thermo Electron China公司SID市场部,上海,201206
【出 处】
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中国金属学会第十三届分析测试学术年会——冶金及材料分析测试学术报告会
【发表日期】
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2006年8期
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