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用SIMS研究Ⅰ型载荷下堆焊结构界面区附近缺口顶端的氢分布行为
用SIMS研究Ⅰ型载荷下堆焊结构界面区附近缺口顶端的氢分布行为
来源 :1998二次离子质谱学国际研讨会暨第二届全国二次离子质谱学会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lianglianghepan
【摘 要】
:
采用SIMS微区分析法,首次测定了受载条件下堆焊结构界面区附近的缺口顶端氢分布曲线。根据堆焊结构界面区化学及组织不均匀性,讨论了氢峰和浓度低谷的性质,并提出了合金碳化物群体陷
【作 者】
:
孟庆海
陈廉
吉瑞德
【机 构】
:
科学院金属腐蚀与防护研究所,金属腐蚀与防护国家重点实验室(沈阳)
【出 处】
:
1998二次离子质谱学国际研讨会暨第二届全国二次离子质谱学会议
【发表日期】
:
1998年期
【关键词】
:
载荷
堆焊
结构
界面区
顶端
氢分布
合金碳化物
应力梯度
分布曲线
不均匀性
体陷阱
浓度低
分析法
组织
微区
模型
化学
富集
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采用SIMS微区分析法,首次测定了受载条件下堆焊结构界面区附近的缺口顶端氢分布曲线。根据堆焊结构界面区化学及组织不均匀性,讨论了氢峰和浓度低谷的性质,并提出了合金碳化物群体陷阱。应力梯度-位错梯度联合致氢富集的新模型。
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