ICP刻蚀在SiC MESFET中的应用

来源 :第十三届全国电子束、离子束、光子束学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:Lotus35000
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本文通过大量的实验,摸索到了一种采用感应耦合等离子体刻蚀(inductivelycoupledplasma,ICP)的工艺条件实现SiC材料腐蚀,腐蚀后样片的表面粗糙度达到1nm以下,腐蚀速率超过200nm/min.采用该工艺条件制作的SiCMESFET样管,跨导最大达到25ms/mm.
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