寻址器铁芯离子渗镍研究

来源 :中国电子学会第六届生产技术学分会学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:sworc
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本文采用不同的工艺参数对寻址器铁芯进行了离子渗Ni试验.结果表明,渗Ni层由白亮层和树枝状结构层组成,白亮层为Fe-Ni合金奥氏体沉积层,树枝结构层为合金奥氏体和铁素体组成的扩散层.渗层深度随加热温度的升高和保温时间的延长而增加.白亮层中的Ni浓度随渗层的深度变化不大,枝状扩散层的Ni浓度呈较大梯度分布.加热温度的升高、保温时间的延长可使铁芯的磁性增强,渗Ni后样品的磁性均优于化学镀Ni样品.经离子渗Ni的样品具有良好的防腐蚀性能.
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