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本文根据实际应用中AOI系统芯片贴装质量检测的要求,提出了一种芯片字符分割识别方法,将待测芯片的图像与标准图像的字符进行识别比对,达到提高芯片贴装质量检测的目的。此方法的应用,可以大大的降低AOI误报的情况,提高AOI系统的质量检测可靠性。
一种全自动光学检测中芯片字符识别算法研究与实现
【摘 要】
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本文根据实际应用中AOI系统芯片贴装质量检测的要求,提出了一种芯片字符分割识别方法,将待测芯片的图像与标准图像的字符进行识别比对,达到提高芯片贴装质量检测的目的。此方
【机 构】
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华南理工大学精密电子制造装备教育部工程研究中心 自动化学院
【出 处】
：
2008中国高端SMT学术会议
【发表日期】
：
2008年期
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