【摘 要】
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实现了一种针对液晶控制芯片的量产优化测试方案。在液晶控制芯片的测试中，高精度ADC/DAC,低精度ADC和高速IO接口是其主要测试对象。通常使用RAMP波测试高精度ADC/DAC的线性特性;使用混合信号测试低精度ADC;使用直连方式测试HSIO。在规模量产情况下、这些常规方法无法满足缩短测试时间，降低测试机台配置成本和获取高精度测试结果的要求。本文介绍了一种优化测试方案来解决以上问题。经实际验证，
【机 构】
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惠瑞捷半导体科技(上海)有限公司 上海201203
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实现了一种针对液晶控制芯片的量产优化测试方案。在液晶控制芯片的测试中，高精度ADC/DAC,低精度ADC和高速IO接口是其主要测试对象。通常使用RAMP波测试高精度ADC/DAC的线性特性;使用混合信号测试低精度ADC;使用直连方式测试HSIO。在规模量产情况下、这些常规方法无法满足缩短测试时间，降低测试机台配置成本和获取高精度测试结果的要求。本文介绍了一种优化测试方案来解决以上问题。经实际验证，采用本方案测试时问将缩短6％。
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