目前国内的一些政府机关、机要部门、驻外使馆等高密级单位在信息设备上正需要这种满足屏蔽室安全防护距离性能(1米电磁安全防护距离)的计算机甚至更高性能的计算机，因此在处理高密级资料时会选择进入屏蔽室进行操作，这样的操作尽管能够保证电磁信息的安全，但是工作起来非常不方便，而且也会浪费不少时间。同时由于屏蔽室的特殊要求，屏蔽室相对封闭，通风条件差，这就给长期工作在这种环境中的人的健康带来危害。因此人们急切地想要摆脱这种工作局面，而由于没有标准能够支持1米电磁安全防护距离计算机的测试，同时由于计算机的体积限制，通过测试计算机屏效来衡量安全防护距离的方法也不可行，因此这就给低辐射计算机研制单位带来诸多不便，也严重影响了各政府机关、机要部门的机密信息处理工作。基于此原因，本文将介绍一种满足1米安全防护距离的低辐射计算机的判定方法，以此来缓解目前这种无标准可依的状态。