溶液法制备聚集诱导发光有机薄膜的物理特性研究

来源 :第十二届全国固体薄膜会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:miss3yoyo
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@@有机发光二极管(OLED)具有低压驱动、主动发光、高亮度、视角广、可实现柔性显示等优点,它在平板显示领域展现出广阔的应用前景。目前,采用真空蒸镀方法制备的OLED具有优秀的性能并且技术较为成熟,但是真空蒸镀法成本高,难以实现大尺寸。
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RF射频溅射法制备BN薄膜,使用离子注入法将S注入BN薄膜中进行掺杂,测量了掺杂前后BN薄膜的表面电阻率,并计算掺杂后BN薄膜的激活能。离子注入能量为190KeV,注入剂量在1015ions/cm2-1016ions/cm2之间,薄膜在离子注入后经400℃-800℃退火,并在薄膜表面蒸镀2mm×5mm的铝电极,以测量其电学特性。实验结果表明:离子注入掺杂后的BN薄膜表面电阻率随着S离子注入剂量的增
采用脉冲激光沉积法(PLD)在LaAlO3(LAO)衬底上制备了Ag掺杂的La2/3Ca1/3MnO3薄膜,X射线衍射分析表明所制备薄膜均沿[001]单取向生长,ω-θ摇摆曲线及AFM显示,所制备薄膜结晶质量较好,表面粗糙度较小,并且温度越高薄膜结晶质量越好。
根据现行氮化镓金属有机物化学气相沉积的生长动力学理论,结合商用垂直喷淋式反应器,运用计算流体力学方法,耦合化学反应动力学和输运过程,对GaN MOCVD生长过程进行全面的仿真。计算得到了相关场、反应产物以及生长速率、寄生沉积速率的分布。在典型的生长工艺下,衬底上GaN生长速率适中而均匀,上壁的寄生沉积速率不足前者的1/10。此外,文中还证明了MMGa为GaN生长的主要来源,而TMGa:NH3则为寄
本文研究了利用MOVPE技术在Ge衬底上生长GaInP薄膜的结构及表面性质。高分辨透射电镜(TEM)结果显示Ge衬底上生长的GaInP材料没有发现反向筹(APDs)和位错。原子力显微镜(AFM)结果表明,GaInP外延簿膜的表面形貌主要受GaInP本身性质的影响。掺Si不仅可以增加GaInP的无序度,提高带隙宽度,而且会使材料表面变光滑。在同样的生长条件下,使用偏角大的Ge衬底也可以降低材料表面的
在常温下,采用反应磁控溅射法在K9双面抛光玻璃基底上制备氧化钛薄膜,采用XRD,光栅光谱仪、椭偏仪对样品进行测试,拟合分析得到薄膜的折射率和厚度等光学参数。结果表明氧化钛纳米薄膜呈非晶态,在可见光波段吸收小、是透明的,是用来构成一维光子晶体的理想组份,对其光学性能的基础研究为以后光子晶体的结构设计具有积极的意义。
硅同质外延在纯硅器件制备以及硅基异质结构材料生长中都有重要应用。发现生长温度对Si外延膜的表面形貌影响很大,因此深入理解其生长机理和表面形成的过程有重要意义。利用超高真空化学气相淀积方法,采用高纯Si2H6为气源,在Si(100)衬底上同质外延生长Si薄膜,生长温度分别为650℃、700℃、730℃、750℃、800℃。通过原子力显微镜观测这些外延薄膜的表面形貌,发现生长温度为650℃时,外延生长
基于流体动力学原理对自行研制的垂直式HVPE系统制备GaN的表面沉积率进行了三维数值模拟。研究表明反应物的出气方式是GaN沉积率均匀性差的根本原因,并对反应室的出气口结构进行了改进。结果表明,在衬底上方合适的位置增加多路对称的Ga源管道可以使GaCl在衬底上方的分布比较均匀,改变了GaN沉积率中间过高而边缘过低的现象,提高了GaN表面沉积率大小的均匀性,为进一步优化反应室结构提供了依据。
在氢氟酸浸没1分钟后,对(001)硅纳米薄膜进行去离了水1分钟漂洗和不漂洗两种处理,在室温干燥空气中运用van der Pauw方法对其进行面阻测量,结果发现:与表面有自然氧化层的样品相比,氢氟酸表面处理后能使电导率有几个数量级的提高,漂洗后的样品比没漂洗的样品电导率稍底,这是由于在漂洗过程中样品表面已开始氧化。随着表面逐渐氧化,电导率逐渐复原,两种样品的电导率也达到一致。这些结果与X光电子图谱(
本文采用阳极氧化法在钛基底上生长了一维高度有序TiO2纳米管阵列,并与四脚状CdSe量子点组装成一种新型的量子点敏化太阳能电池(QDSSCs)。该阵列结构为光生电子的传递提供了快速通道。采用XRD,SEM和HR-TEM对阵列及量子点进行了表征。考察了量子点敏化纳米管阵列三电极电池结构的光电性能。结果表明:在模拟太阳光(AM 1.5 100mW/cm2)的照射下,TiO2纳米管阵列,CdSe-TiO
以铁磁—顺磁的相变为例,用Landau相变理论分析三维各向异性。薄膜样品存在垂直于膜面方向的单向各向异性的情况,自由能的幂级数展开的三次幂项是导出自发磁化交换偏置现象的关键。