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该文提出了一种新的相位解调术即变精度相位去包裹方法。对一物体进行粗精两次测量,粗精度测量是为了使其相位图简单,可按一般的去包裹方法解调出相位,然后再利用已解调的相位结果对高精度测量得到的包裹图进行去包裹。在实际中研究人员首次采用了改变光源位置的手段实现变精度测量过程,使整个过程完全自动化。