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综述光荧光（ＰＬ）分析方法在光电阴极材料特性研究中的具体应用。并提出将光荧光技术在三代像增强器研制工艺过程中，作为一种工艺检测手段的新思路。
光荧光分析方法在光电材料特性研究中的应用
【摘 要】
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综述光荧光（ＰＬ）分析方法在光电阴极材料特性研究中的具体应用。并提出将光荧光技术在三代像增强器研制工艺过程中，作为一种工艺检测手段的新思路。
【机 构】
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西安205研究所
【出 处】
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95年全国夜视热成像学术讨论会
【发表日期】
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1995年期
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