基于荧光强度控制的超分辨成像

来源 :中国物理学会2013年秋季学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lwb3344
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  随着人们探索微观世界的需求越来越高,对微观物体的成像分辨率也提出越来越高的要求。尽管如扫描电子显微镜等技术得到很大的发展,然而光学远场成像依然是最常用的方法之一。特别在生物学的显微成像中,因其不会破坏生物结构而被广泛的采用。
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