电子元器件加严判据加速寿命试验方法研究

来源 :中国电子学会可靠性分会第八届学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:danfengtaoyang
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该文简要阐述了电子元器件加严判据加速寿命试验的基本原理,用加严判据加速寿命试验方法评价了现任中规格有机实芯电阻器和一种规格铝电解电容器的可靠性,建立了加严判据加速寿命方程,给出了评价结果,并用额定应力长期寿命试验对说价方法的准确性进行了验证。
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