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概述了探针法金属薄膜磁电阻效应的测试原理,分析了探针因子对测量结果的影响。利用2182纳伏表等仪器设计组装出了测试系统,实现了磁性薄膜材料磁电阻效应的高精度测量。给出了微机控制软件关键子程序的C语言源程序。该系统集数据采样、数据处理、参数计算等功能于一体,用户界面友好、测试范围宽、精度高等特点。系统软件还能在计算机屏幕、打印机上绘出被测样品的磁电阻效应曲线,井生成标准数据文件供ORIGIN等数据处理软件调用。对实际金属薄膜样品进行了测试分析,效果良好。