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应用基于双权值的门替换方法缓解电路老化
在纳米工艺水平下,负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)成为影响集成电路可靠性的关键性因素.NBTI效应......
期刊
负偏置温度不稳定性
电路时序违规
双权值
关键门
非门替换
negative bias temperature instability(NBTI)
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