透射电镜截面样品相关论文
利用单束调制离子减薄技术，对SrTiO3截面样品的同一位置进行间断性轰击，得到了厚度均匀的透射电镜截面样品。......
聚焦离子束（FIB）制备传统截面TEM样品已有非常成熟的流程,然而在原位加热芯片上制备高质量的TEM样品仍困扰着广大从事原位实验的研究......
