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p-Si薄膜在氢氟酸溶液中的电化学抛光是通过阳极溶解降低薄膜表面粗糙度.本文用线性扫描研究了在不同的氧氟酸浓度下的电化学行为,......
利用法国施卢姆贝格公司的纯化离子注入型硅面结探测器样品EPX—25—300,以[**]Fe,[**]Pu和[**]Am作X射线源,配合国产核仪器插件,进行......
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