测试向量排序相关论文
随着集成电路制造工艺的不断变化,以及对测试效率和可靠性的需求,为集成电路行业在测试方面带来了新的挑战,如何改善芯片在测试时......
随着集成电路设计与制造技术的快速进步,目前单颗芯片上集成的晶体管数量已有百亿之多,集成电路的复杂度和规模大大提高。随之而来......
研究了数字集成电路测试过程中的功耗问题,提出一种新的测试向量重排序方法,有效地减小了测试过程中电路状态的翻转次数。该方法根......
针对集成电路测试过程中测试时间长,影响测试效率的问题,提出了一种集成电路测试流程分级动态调整方法.通过统计样本集成电路中每......
在利用划分等价类的方法来诊断组合电路中桥接故障的基础上，本文提出了一种基于门特性的IDDQ测试集生成算法及对测试集排序筛选的优......
