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测试产生算法相关论文

数字电路冗余故障测试产生算法研究

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期刊

冗余故障测试产生算法模拟结果及分析

时延故障测试产生算法与IDDT测试实验研究

随着集成电路设计与加工技术的飞速发展，测试作为IC产业中一个极为重要的环节，变得越来越困难。特别是进入深亚微米发展阶段以来，通过......

学位

测试产生算法 I(DDT)测试时延故障可测性设计自反馈

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