最小测试集相关论文
目前最小测试集的最佳近似比是贪心算法的2ln n+o(1).这个近似比能否改进是一个公开的问题.本文讨论了最小测试集的基于线性规划松......
随着电子技术的迅猛发展,电路系统的复杂程度急剧增加,越来越多的电路同时包含了数字信号和模拟信号,使得电路系统的测试难度越来......
分析了软件可靠性测试中确定最小测试量的重要意义，阐述了基于操作剖面的软件可靠性测试数据生成方法和软件可靠性测试数据统计特征......
近年来发展的离散事件系统(DES)理论可提供一种统一的对数模混合电路中数字电路和模拟电路测试都有效的方法.对基于DES理论的可测......
在基于DES理论的电路测试中,最小测试集的求取一直是重点和难点。该文提出了一种基于网络撕裂法和图论法相结合的算法来求取最小测......
离散事件系统(DES)理论的发展为数模混合电路中的数字信号和模拟信号的测试提供了一种统一、系统、有效的方法.在基于DES理论的电......
电路的测试与诊断已有了广泛的研究,但被测电路的最小测试集的寻找一直是个难题.本文引用图论中的有关概念,对使用离散事件系统理......
近年来发展的离散事件系统（DES）为数模混合电路中数字信号和模拟信号提供了一种统一的测试方法，而求取电路的最小测试集一直是该研究......
数模混合电路故障诊断是一个被广泛关注的前沿课题，它面临着许多测试上的难点，解决这个问题意义重大而任务艰巨。由于数模混合电路具......
随着微处理器技术及微电子技术的迅猛发展，电路系统的规模和复杂性都急剧上升，印刷电路板的密度不断增加，使得电路系统的测试难度也越......
随着电子技术的迅猛发展,电路系统的复杂度急剧增加,目前约有60%的芯片同时包含了数字和模拟两种信号,电路测试也因此面临着更大的......
随着科学技术尤其是微电子技术的发展，LSI，VLSI的电路密度不断增加，集成电路的测试难度越来越大，而数模混合电路的应用更使测试难度增......
随着电子技术的迅猛发展,电路系统的规模和复杂程度急剧增加,越来越多的电路同时包含了数字和模拟两种信号,使得电路系统的测试难......
电路复杂度的增加使得电路测试领域面临着前所未有的挑战,更多的电路同时包含了数字和模拟两种信号。离散时间系统理论(DES—Discr......
