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成品率边界因子相关论文
嵌入式SRAM的优化修复方法及应用
为了提高SRAM的成品率并降低其功耗,提出一种优化的SRAM.通过增加的冗余逻辑及电熔丝盒来代替SRAM中的错误单元,以提高其成品率;通......
期刊
高成品率
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成品率边界因子
低功耗
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higher yield optimum redundancy logic boundary
嵌入式SRAM的优化设计方法与测试技术研究
嵌入式存储器是集成电路IC(Integrated Circiut)的重要组成部分,其在片上系统SOC(System on Chip)中的数量和面积都在稳定地增加。......
学位
嵌入式SRAM
SOC测试
高成品率
低功耗
冗余逻辑
最大概率缺陷字数
成品率边界因子
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