随着超大规模集成电路(ULSI)技术的快速发展，传统使用的SiO2栅介质层已将达到其应用的物理极限，寻找新的栅介质材料来代替传统使用的......

基于光在多层介质虽的传输理论，对ＺｎＳ．ＺｎＳｅ周期迭层介质结构中光的反射特性作了分析和计算。由得到的Ｂｒａｇｇ反射率与光波长的关系曲线，发现当ＺｎＳ．ＺｎＳｅ的折射......

本文叙述了利用椭圆仪测量双层介质膜的厚度和折射率的原理和方法。...

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