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[会议论文] 作者:Shengkui Cao,Qi Feng,Jianhua Si,Yonghong Su,Zongqiang Chang,Haiyang Xi, 来源:The International Conference on Computational and System Bio 年份:2009
[会议论文] 作者:Shengkui Cao,Qi Feng,Jianhua Si,Yonghong Su,Zongqiang Chang,Haiyang Xi, 来源:The International Conference on Computational and System Bio 年份:2009
[会议论文] 作者:Feng Xiangchen,Feng Jianhua,冯祥晨,冯建华,Cui Xiaole,崔小乐, 来源:第七届中国测试学术会议 年份:2012
  测试压缩下的功耗问题已经成为近期研究的热点。本文提出了一种新的低功耗广播式测试压缩结构,通过有限状态机控制一半的内部扫描链在扫描过程中接收持续的常数0,另一半...
[会议论文] 作者:PANG Lili,Shi Yun,Dong Hanchuan,Feng Jianhua,Yuan Aijun,Zhang Lei,Zhang Jianwei, 来源:The First Joint Scientific Meeting of Geological Society of 年份:2013
[会议论文] 作者:Feng Xiangchen,冯祥晨,Feng Jianhua,冯建华,Cui Xiaole,崔小乐, 来源:第七届中国测试学术会议 年份:2012
测试压缩下的功耗问题已经成为近期研究的热点。本文提出了一种新的低功耗广播式测试压缩结构,通过有限状态机控制一半的内部扫描链在扫描过程中接收持续的常数0,另一半的内部扫描链接收来自扫描通道的测试激励,实现了广播式压缩环境下对内部扫描链选通的自动动......
[会议论文] 作者:Lin Zhiqin,林志钦,Feng Jianhua,冯建华,Li Lei,李蕾,Zhang Xing,张兴, 来源:第七届中国测试学术会议 年份:2012
随着工艺的发展,尤其到45nm以下,工艺波动、串扰、电源噪声分布以及阻性短路和开路等会引入大量小时延缺陷(small delay defect),这些小时延在高频电路中可能引起时序功能失效,导致质量和可靠性争端。因此,为了提高故障覆盖率和测试有效性,小时延缺陷测试成为延迟测试......
[会议论文] 作者:Chunyue Feng,Jianhua Mao,Yonghui Xia,Wenjin Wang,Xia Jin,Haidong Fu,Xia Wang,Huijun Shen,Guling Qian,, 来源:中华医学会第十八次全国儿科学术会议 年份:2013
[会议论文] 作者:Chunyue Feng,Jianhua Mao,Yonghui Xia,Wenjin Wang,Xia Jin,Haidong Fu,Xia Wang,Huijun Shen,Guling Qian,, 来源:中华医学会第十八次全国儿科学术会议 年份:2013
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