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[期刊论文] 作者：肖华杰,邓向瑞,范百兴,西勤,李连福,
来源：测绘科学与工程 年份：2016
新型μ-base精密测距仪是一款高精度基线测距仪，它采用ADM测距原理，在使用角隅棱镜（CCR1．5“，RRR1．5”）时，其在160m的范围内的测距精度优于10μm。本文在分析ADM测距原理的基础上，利用......
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