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[期刊论文] 作者：章晓文,陈鹏,恩云飞,张晓雯,,
来源：微电子学 年份：2013
研究了热载流子注入效应的可靠性评价方法,利用对数正态拟合的中位失效时间,提取加速寿命试验的模型参数.利用这些模型参数,分别评价了0.18 μm CMOS工艺薄栅和厚栅器件的可...
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