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[会议论文] 作者：李超,姚湲,沈希,王岩国,禹日成,霍宗亮,刘琦,朱晨昕,刘明,
来源：2015年全国电子显微学学术会议 年份：2015
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[会议论文] 作者：李超,姚湲,霍宗亮,刘琦,朱晨昕,刘明,沈希,王岩国,禹日成,
来源：2015年全国电子显微学学术会议 年份：2015
随着半导体器件集成度的提高,现有的非易失性(nonvolatile)浮栅闪存(floating gate flash memory)面临着浮栅之间的耦合效应增强、电荷泄露、阈值不稳定及保持力(retention)...
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