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[期刊论文] 作者：王岩国,
来源：第六次华北五省市电子显微学研讨会及第八届全国实验室协作服务交流会 年份：2010
利用原位电子显微方法对半导体纳米线进行了原位应变研究，结果表明：在轴向压应力的作用下，ZnSe纳米线可以发生明显的塑性形变，导致纳米线发生大应变。通过在纳米尺度上控制压力探......
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