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[学位论文] 作者：朱雪斌,
来源：桂林电子科技大学 年份：2012
随着边界扫描测试技术的不断深入研发，它已经突破了传统管脚接触式测试理论和手段，解决了传统技术所不能完成的大规模集成电路的检测。虽然边界扫描技术针对不同的测试类型和测......
[期刊论文] 作者：张伟杰,戴建明,朱雪斌,常青,刘强春,孙玉平,,
来源：Chinese Physics B 年份：2012
Ba0.6Sr0.4 TiO3 thin films doped with K were deposited on Pt/Ti/SiO2 /Si substrates by the chemical solution deposition method. The structure, surface morpholog...
[会议论文] 作者：菅洪彬,李琦,施东齐,张莉,杨昭荣,窦石学,朱雪斌,孙玉平,
来源：帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会 年份：2012
采用三氟乙酸金属有机物沉积方法在不改变工艺条件下,在LaAlO3(001)衬底上制备了Y1-xHoxBa2Cu3O7-δ(x=0,0.1,0.2,0.3,0.4,0.5)薄膜.其中,Yo.6Hoo.4Ba2Cu3O7-δ的临界电流密度Jc最高,77K自场下是YBa2Cu3O7-δ的1.6倍.磁通钉扎类型并没有随Ho的替代而改变,依然为......
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