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[期刊论文] 作者:, 来源:中国集成电路 年份:2005
德万测试(苏州)有限公司日前在上海、北京两地召开了2004年技术研讨会。爱德万测试软件部门的工程师们以“Soc测试的领先技术”等为题作了精彩的发言。整个会议围绕着IC测...
[期刊论文] 作者:, 来源:中国集成电路 年份:2005
德万测试(苏州)有限公司最近携手中电集团58所、中微腾芯公司,在中电集团58所首次联合举办无锡地区测试技术研讨会。...
[期刊论文] 作者:, 来源:电子与封装 年份:2005
德万测试(苏州)有限公司上海分公司近年来承蒙各界同仁的支持与厚爱,业务蒸蒸日上。为了给广大客户提供更优质的服务,公司大幅增加了人员配备,故现有场所已不能适应发展的实际...
[期刊论文] 作者:, 来源:集成电路应用 年份:2005
近日,由上海龙晶微电子有限公司(Shanghai Longjing)研制的具有自主产权的液晶显示器源驱动芯片(TFT-Source Driver LJIOS101)在爱德万测试机台T6371上完成设计评价测试...
[期刊论文] 作者:黄荣卫,杨瑞怡,杨红雁,赵大鹏, 来源:首都医药 年份:2005
目的观察匹多莫德(万适宁)对反复呼吸道感染患儿的疗效.方法对30例反复呼吸道感染患儿在常规治疗基础上加用匹多莫德(万适宁),治疗前和治疗后抽血查CD4+及CD4+/CD8+.结果在急...
[期刊论文] 作者:黄荣卫,赵大鹏, 来源:首都医药 年份:2005
目的观察匹多莫德(万适宁)对反复呼吸道感染患儿的疗效。方法对30例反复呼吸道感染患儿在常规治疗基础上加用匹多莫德(万适宁),治疗前和治疗后抽血查CD4+及CD4+/CD8+。结果在...
[期刊论文] 作者:, 来源:集成电路应用 年份:2005
ADVANTEST日前分别在北京、上海召开了2004年技术研讨会。来自业内各大厂商的工程师、经理和IC测试人员及设计人员应邀出席了本次会议。...
[期刊论文] 作者:石德万, 来源:情报杂志 年份:2005
介绍了WINISIS及其发展概况,分析了WINISIS的基本功能特点,并对WINISIS的应用进行较为详细的分析与探讨....
[期刊论文] 作者:曾德万, 来源:文教资料 年份:2005
全文从语音的角度,分歧义现象为同音异形、同形异音、同音同形、异形异音四个大类。这与传统歧义分类法有一些不一致的地方。The full text from the voice point of view,...
[期刊论文] 作者:金德万, 来源:江汉论坛 年份:2005
人是通过创造社会生活的间隔来创造时间的.岁时节令乃是中国人社会生活时间体验的方式.对这一生活方式的历史书写抉发社会活动反映其内蕴的历史价值意义,使得社会历史变成与...
[期刊论文] 作者:金德万, 来源:孝感学院学报 年份:2005
历史本质上是人的社会活动的发展过程.整个历史的基础只能从人的社会活动出发.人的本质表现为现实的社会存在.历史的发展与人的发展成为同一个过程.历史的本质与人的本质在社...
[期刊论文] 作者:韩德万, 来源:延边大学学报:自然科学版 年份:2005
研究发现,影响密立根油滴实验油滴观察效果的主要因素与所用聚光小灯泡的电阻大小和加在小灯泡上的电压大小有关....
[期刊论文] 作者:金德万, 来源:江汉大学学报:人文科学版 年份:2005
科学是在社会实践基础上探索自然世界、人类社会和自身世界的活动,是以正确地反映现实及其运动规律为内容,并通过概念、判断、假说和推理等逻辑思维形式来表现人类的认识程度...
[期刊论文] 作者:叶德万,, 来源:江苏商论 年份:2005
本文主要分析了我国纺织服装业在后配额时代面临的四道坎以及全球纺织品市场将呈现的新变化,并据此提出了应对策略措施。...
[期刊论文] 作者:曾德万, 来源:青海师专学报(教育科学版) 年份:2005
文章以语法、语义、语用三个平面的语法观为根据,从语法结构、语法意义,语言的表达与理解和话语分析三个方面,分析讨论了倒序引起的变化....
[会议论文] 作者:梁德万, 来源:基础教育理论研究论文精选(下 年份:2005
[期刊论文] 作者:, 来源:半导体技术 年份:2005
日前,爱德万测试(苏州)有限公司携手中电集团58所、中微腾芯公司,在中电集团58所首次联合举办无锡地区测试技术研讨会。...
[期刊论文] 作者:德万迪尔, 来源:祝你幸福·综合版 年份:2005
每个孩子都应该为家人做顿饭    只需你的一点儿帮助,年龄最小的孩子也能自豪地做出一顿意义特殊的饭菜。你的孩子也许想准备一顿特别的早餐,或是为他们庆祝生日,或者为整个家庭制作一顿午餐或晚餐。即使这可能意味着你将要吃一顿杂乱的饭菜,也要让孩子尝试着去......
[期刊论文] 作者:李金铁, 来源:电子工业专用设备 年份:2005
近年来,伴随着一系列的高速数据传输标准在实际产品中的应用,对于这类芯片的评价测试难度也变得越来越大.爱德万测试根据这类要求,开发了5 Gbps信号的高速测试选件....
[期刊论文] 作者:, 来源:半导体技术 年份:2005
日本尔必达内存日前宣布,将与日本爱德万(Advantest)、美国金士顿科技(日本)和台湾力成科技股份有限公司合资成立一家对半导体晶圆上形成的元件进行工作试验的专业公司“Tera Prob...
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