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[期刊论文] 作者：张静,侯育增,
来源：集成电路通讯 年份：2011
针对某批次混合集成电路Au—Al键合失效现象进行分析研究，通过电镜扫描微观察和X射线能谱分析，结合键合拉力数据统计分析，查明了造成此电路键合失效的真正原因。...
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