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[期刊论文] 作者:崔小乐,杨轩,程作霖,李崇仁,, 来源:计算机辅助设计与图形学学报 年份:2015
针对逻辑电路动态老化试验的输入矢量优化问题,提出一种用于实现被测芯片的自加热能力的输入矢量优化选择方法.该方法采用转换故障模型,利用ATPG手段生成备选的输入矢量集合;为提高功耗权重计算的精确性,对不同类型的门电路在不同输入组合情况下的功耗权重进行......
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