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[会议论文] 作者：王欣,何杞鑫,
来源：第十届混合集成电路学术会议 年份：1997
...
[期刊论文] 作者：叶润涛,何杞鑫,徐家权,
来源：固体电子学研究与进展 年份：1987
已设计的实验能够在同一仪器上方便地测量MOS功率管的脉冲I-V输出特性、直流I-V输出特性和器件内部的温度。对实验结果进行的综合分析表明,阈值电压随温度的增加而减小将引起...
[会议论文] 作者：何杞鑫,姚云龙,裘梦熊,
来源：第十四届全国电源技术年会 年份：2001
介绍电子镇流器的异常状态和保护电路....
[会议论文] 作者：何杞鑫,余杭市节能技术应用研究所(余杭),姚云龙,裘梦熊,
来源：华东地区首届电源技术研讨会 年份：2000
介绍电子镇流器的异常状态和保护电路....
[会议论文] 作者：何杞鑫,余杭市节能技术应用研究所(余杭),姚云龙,余杭市节能技术应用研究所(余杭),裘梦熊,余杭市节能技术应用研究所(余杭),
来源：华东地区首届电源技术研讨会 年份：2000
介绍电子镇流器的异常状态和保护电路....
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