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[期刊论文] 作者：来萍,刘发,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1999
探索用端口Ⅰ－Ⅴ特性对ＣＭＯＳ电路的ＥＳＤ潜在损伤进行分析诊断，给出受ＥＳＤ潜在损伤电路端口特性变化的一些特征，对用Ⅰ－Ⅴ特性变化表征潜在损伤器件的条件和局限性进行了讨论。......
[期刊论文] 作者：Shade.,G,来萍,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1998
光辐光显微技术（ＬＥＭ）已广泛用于检测各种半导体器件因缺陷氧化层、结漏电、闩锁和其他漏电现象等引起的失效。尽管ＬＥＭ已广泛应用，但却很少见有关其原因的文献报导。随着应用的不断增长......
[期刊论文] 作者：李建宁,来萍,
来源：青海师范大学学报：哲学社会科学版 年份：2000
加强高校思想政治教育是时代的要求。为提高我省高校思想政治教育的实效性，我们对青海省高校学生思想政治素质的现状进行了一次全面的问卷调查。通过分析所存在的问题及成国在......
[期刊论文] 作者：来萍,陈艳,
来源：固体电子学研究与进展 年份：1992
介绍一个以GaAs Gunn器件为振荡元件的Ka波段微波单片压控振荡器(MMIC VCO)。它以工艺相容的Schottky二极管为调谐元件,采取微带耦合的电路形式。该MMIC VCO制作在5mm×3...
[会议论文] 作者：来萍,刘发,
来源：中国电子学会电子产品防护技术'98研讨会 年份：1998
该文总结了近两年为元器件生产厂家及用户进行的87个批次器件的静电放电敏感度(ESDS)等级评价和分类试验的情况，就试验的结果和作用进行了分析和讨论。...
[会议论文] 作者：来萍,刘发,
来源：第八届全国可靠性物理学术讨论会 年份：1999
探索用静态小电流参数对CMOS电路ESD潜在损伤进行分析诊断，给出受ESD潜在损伤电路静态小电流参数变化的一些特征，对用静态小电流参数变化表征潜在损伤器件的条件和局限性进行了......
[期刊论文] 作者：Gary Shade,来萍,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1998
光辐射显微技术（LEM）已广泛用于检测各种半导体器件因缺陷氧化层、结漏电。闩锁和其他漏电现象等引起的失效。尽管LEM已被广泛应用，但却很少见到有关其原因的文献报导。随着应用......
[期刊论文] 作者：蒋工,来萍,
来源：技术与市场.园林工程 年份：2005
萧山绿源苗木配送有限公司董事长孙妙夫见到我们兴奋地说:“今年萧山苗木销售形势比年初预期要好得多,依然呈现旺销势头,部分品种苗木的销售形势可以说达到了前所未有的状况,...
[期刊论文] 作者：冯敬东,来萍,,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2008
对电子产品平均无故障工作时间(MTBF)的实际意义进行了深入的探讨,旨在使业界能正确理解这一表征电子产品可靠性的常用概念;并通过大量的案例,介绍了MTBF的工程计算方法,以期...
[期刊论文] 作者：来萍,郑廷圭,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2002
介绍了对一种进口微波放大器在静态条件下产生自激振荡的原因进行分析的案例。在保证不破坏原有现象和尽量保证样品完整性的前提下，采用各种技术手段，成功地进行了分析定位。确......
[期刊论文] 作者：来萍,费庆宇,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1997
本文介绍了首次采用光辐射显微技术对半导体器件进行失交分析和缺陷定位的应用实例，分析过程快速、简便失效定位准确、直观，显示了光辐射显微技术在失效分析，尤其是失效一位方面......
[期刊论文] 作者：费庆宇,来萍,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1995
ＧａＡｓ ＭＥＳＦＥＴ直流特性退化的主要原因是源极漏极欧姆接触退化和栅极肖特基势垒接触退化，笔者用结构敏感参数电测法和Ｃ－Ｖ法进行失效定位和失效分析，为上述失效原因提供了证据。......
[期刊论文] 作者：符生,刘来萍,,
来源：安徽工业大学学报(自然科学版) 年份：2010
介绍采用硫浮选．弱磁选．强磁选降磷工艺降低铁精矿含磷的生产实践情况，并对降磷工艺中存在的铁损失高等问题进行了探讨，提出解决问题的有效措施。...
[期刊论文] 作者：王丽,来萍利,,
来源：中国药业 年份：2013
目的建立止咳桃花散中朱砂的含量测定方法。方法先除去止咳桃花散中的水溶性成分，然后对含朱砂的水不溶性部分进行硝化处理，采用氧化还原滴定法，以0．1mol／L硫氰酸铵为滴定液，测定朱......
[期刊论文] 作者：来萍利,王丽,,
来源：中国药业 年份：2013
目的探讨硫酸阿米卡星注射液的最佳生产工艺。方法选用不同用量的抗氧剂、络合剂、活性炭吸附荆，在相同生产工艺参数下进行试生产，对试生产的样品澄明度、色泽、pH、含量、热原......
[期刊论文] 作者：来萍,欧叶芳,
来源：电子质量 年份：2000
本文根据几例对进口元器件进行失效分析、试验和检测的结果，讨论了当前国内部分整机单位在购买进口元器件时，可靠性方面存在的一些问题，并提出了一些改进方法和建议。...
[会议论文] 作者：来萍,欧叶芳,
来源：第七届全国可靠性物理学术讨论会 年份：1997
该文介绍了运用光辐射显微镜对半导体器件进行失效分析和缺陷定位的两个实例。分析过程快速、简便，失效定位准确、直观，显示了光辐射显微技术在失效分析、尤其是失效定位方面的......
[会议论文] 作者：朱文敏,杨少华,来萍,
来源：2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2011
本文论述了利用DSC法测试PEM模塑料的玻璃化转变温度的原理，并测试了国内外不同的塑封器件的模塑封的玻璃化转变温度。测试结果表明国产的PEM模塑料的Tg要低于进口器件，Tg...
[会议论文] 作者：谢国雄,来萍,
来源：中国电子学会第十四届青年学术年会 年份：2008
本文着重介绍了ANSYS有限元分析软件在微波组件热分析方面的方法,这个方法可以为实际中微波组件设计工作提供一些参考和依据。...
[期刊论文] 作者：燕海茂,,
来源：青海教育 年份：2012
(2012年3月21日)同志们:刚才,来萍副厅长代表厅党组对我厅2011年度党风廉政建设责任制考核情况进行了通报,对先进处室、单位进行了表彰,并签订了2012年度党风廉政建设目标责任书。...
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