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[会议论文] 作者：查良镇,邹庆生,
来源：第一届全国二次离子质谱学会议 年份：1993
...
[期刊论文] 作者：,
来源：真空科学与技术学报 年份：2004
于2004年9月9日～11日在北京召开了五届十一次常务理事会，出席会议的有常务理事王西龙、王树理、江南、刘炳坤、刘鸿飞、达道安、杨乃恒、邵公田、沈先锋、庞世瑾、查良镇、姜燮...
[期刊论文] 作者：,
来源：真空 年份：2011
继续聘请中国真空学会理事长,中国科技大学校长侯建国院士以及(北京)清华大学查良镇教授...
[期刊论文] 作者：,
来源：真空科学与技术 年份：1988
出席会议的有华中一、达道安、董元昌、袁磊、庞世瑾、王芳霖、杨乃恒、蔡海金、姜燮昌、孙春祥、查良镇...
[期刊论文] 作者：梁振,
来源：质谱学杂志 年份：1984
第四届国际二次离子质谱学会议于1983年11月13日至19日本日本大阪举行,十八个国家和地区的约二百五十位代表参加了会议,我国由清华大学查良镇同志和复旦大学朱昂如同志组团...
[期刊论文] 作者：查良镇,阿诺德,巴赫尔,
来源：真空科学与技术 年份：1989
超高真空下keV能量一次氩离子轰击下清洁硅表面二次离子发射的实验研究是二次离子质谱(SIMS)最重要的一种基础研究,它不仅可以支持分析应用,还可用于检验某些理论发射模型。...
[会议论文] 作者：陈旭,查良镇,M.Baril,
来源：1998二次离子质谱学国际研讨会暨第二届全国二次离子质谱学会议 年份：1998
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[期刊论文] 作者：查良镇,朱昂如,,
来源：真空科学与技术 年份：2004
第四届国际二次离子质谱学会议(SIMS-Ⅳ)于1983年11月13日到19日在日本大阪城附近的箕面观光旅馆(Minoo Kanko Hotel,Osaka,Japan)举行。二次离子质谱学是近十多年发展起来...
[会议论文] 作者：姜志雄,查良镇,
来源：第一届全国二次离子质谱学会议 年份：1993
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[期刊论文] 作者：查良镇,薛祖庆,
来源：清华大学学报(自然科学版) 年份：1965
质谱探漏仪的灵敏度是仪器最重要的性能指标。本文研究和评述了目前已收集到的各种质谱探漏仪灵敏度的定义和校准方法，并根据我们在这方面进行的实际工作提出了一个较严格的质......
[期刊论文] 作者：查良镇,杜继桢,
来源：清华大学学报(自然科学版) 年份：1963
本文讨论了标准漏孔的校准方法，介绍了一台可供原始标准漏孔校准的真空系统的 设计，导出了量测误差的公式，并进行了量测误差的分析。根据大中给出的一组曲线， 可综合考虑被校漏孔......
[期刊论文] 作者：姜志雄, 查良镇,
来源：真空科学与技术 年份：1995
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[期刊论文] 作者：查良镇,桂东,朱怡峥,
来源：真空科学与技术 年份：2001
简要回顾了二次离子质谱学的形成和发展 ,从原始概念出发概括分析了学科的特点 ,据此评述了其领域的拓宽和现状。结合近 5年来国内外的最新进展 ,以微电子学和光电子学为重点...
[期刊论文] 作者：陈旭, 刘华荣, 查良镇,
来源：真空 年份：2004
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[期刊论文] 作者：姜志雄,查良镇,M．Schuhmacher,D．Renard,
来源：真空科学与技术 年份：1995
评述了国际上δ掺杂样品ＳＩＭＳ分析的现状，研究了相关的基础实验技术，讨论了分析硅δ掺杂的ＡｌＧａＡｓ样吕时，选择高质量分辨及对不同一次离子参量下相对灵敏度因子进行校准的必须性，考察了一次束......
[期刊论文] 作者：吴英,帖佐薰,查良镇,,
来源：真空 年份：2008
林主税博士是日本著名的真空企业家,长期担任日本真空株式会社(ULVAC)的社长和董事会主席。他于2008年5月14日应邀访问清华大学,以“打造和保持技术型企业竞争力之道——我在...
[会议论文] 作者：陈玉鑫,陈旭,查良镇,
来源：中国真空学会质谱与检漏专委会第十一届年会.中国计量测试学会真空校准专委会市第六届年会 年份：2002
本文建立了气溶胶吸附气体检测装置,利用程序升温手段和四极质谱计对气溶胶样品颗粒表面的吸附气体进行分析,得到初步结果....
[期刊论文] 作者：陈旭,刘华荣,查良镇,Marcel Baril,
来源：真空 年份：2004
多级冲击采样器各级切割器的加工精度对采样器每一级截止直径的影响不同 ,其中最后一级切割器加工精度的影响最大。本文以新型多级冲击采样器为例 ,通过理论计算解释了这一现...
[期刊论文] 作者：陈娉,陈旭,金奇计,查良镇,
来源：真空 年份：2003
为适应对真空及压力器件密封性日益增长的要求 ,尤其是确保小体积密封真空器件的长期可靠性 ,研制了一套超灵敏度检漏系统。这套全金属的超高真空系统主要由分子泵、离子泵、...
[会议论文] 作者：陈旭,查良镇,刘容,M.Baril,D.Michaud,
来源：1998二次离子质谱学国际研讨会暨第二届全国二次离子质谱学会议 年份：1998
概要地介绍了气溶胶标准样品的制备及二次离子质谱的定量分析结果，并与ＩＣＰ－ＡＥＳ分析结对比。ＳＩＭＳ分析结果与标样制备含量相对误差小于２０℅。...
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