搜索筛选:
搜索耗时0.2877秒,为你在为你在102,262,844篇论文里面共找到 2 篇相符的论文内容
发布年度:
A Simple Method for Multichip IGBT Modules Failure Prognostics Using Deviation of Gate Current After
[会议论文] 作者：Luowei Zhou,Shengqi Zhou,
来源：第五届中国高校电力电子与电力传动学术年会 年份：2011
this paper presents our effort in studying the failure prognostics of multichipIGBT modules，and a simple practical approach is introduced，which uses the deviations ofpeak gate charge current after par...
[期刊论文] 作者：罗威，周云山，瞿道海，张飞铁，胡哓岚，LUOWei，ZHOU,
来源：中国机械工程 年份：2019
...
相关搜索：
