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[期刊论文] 作者：诸葛兰剑,,
来源：理化检验(化学分册) 年份：2016
X射线荧光光谱法的基本原理是当物质中的原子受到高能辐射的激发后,发射出该原子所具有的特征X射线。根据探测到该元素特征X射线的存在与否,进行定性分析;其强度可作为定量分...
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