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[期刊论文] 作者:RajuBaddj, 来源:EDN CHINA 电子设计技术 年份:2004
本例描述了一个用于电路问题诊断(如过热元件和热失控)的双晶体管热探针。虽然探针并不能提供精确的温度测量,但可以用探测二极管简单地试探某个可疑元件,从而对潜在的热问题做一......
[期刊论文] 作者:RajuBaddj,印度Pune,塔塔基础研究院,, 来源:EDN CHINA 电子设计技术 年份:2012
本例描述了一个用于电路问题诊断(如过热元件和热失控)的双晶体管热探针。虽然探针并不能提供精确的温度测量,但可以用探测二极管简单地试探某个可疑元件,从而对潜在的热问题做一......
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