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[期刊论文] 作者:Bert Kolts,锦, 来源:今日电子 年份:2000
要构建一套VXI基的测试系统,首先需要对全部供应的产品在价格、性能和开发时间三方面进行评估,这里假设对一套用于测试精密电压基准长期漂移的大型测试系统进行重新设计。...
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